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Technologies, matériaux et dispositifs innovants

Objectifs

A la fin de ce module, l'étudiant devra avoir compris et pourra expliquer :
- Les procédés plasmas
- Les technologies et matériaux nouveaux de la microélectronique (SiGe, SiC, III-V, SOI, OLED¿)
- Les principaux concepts de la physique des milieux continus.
- Les phénomènes quantiques tels que la diffusion, la résonance paramagnétique électronique (RPE), la cryptographie quantique: états intriqués, émetteurs à boites quantiques semiconductrices de paires de photons intriqués et de photon unique.

L'étudiant devra être capable de décrire par un formalisme quantique les interactions rayonnement-matière dans des dispositifs innovants

L'étudiant devra être capable de :
- choisir le type de microscopie à champ proche adapté à une application donnée
- analyser, critiquer et interpréter des images simples de microscopie à champ proche

Pré-requis

Electromagnétisme
Mécanique quantique (I4GPPM11)
Mathématiques: calcul matriciel et résolutions équations différentielles
Métallurgie Physique (cristal « réel », diffusion, précipitation, nucléation, croissance)
Logiciel de calcul formel Maxima: Notions de base

Evaluation

L'évaluation des acquis d'apprentissage est réalisée en continu tout le long du semestre. En fonction des enseignements, elle peut prendre différentes formes : examen écrit, oral, compte-rendu, rapport écrit, évaluation par les pairs...

Bourse

-- Principles of Plasma Discharges and Materials Processing, 2nd Edition, Michael A. Lieberman, Alan J. Lichtenberg (Wiley)
-- Gas Discharge Physics, Raizer, Yuri P. (Springer)
-- Quantum Mechanics, C. Cohen-Tannoudji (Hermann)

M. Lahmani, C. Dupas et P. Houdy
Les Nanosciences - Nanotechnologies et nanophysique (vol.1)
Editions Belin (2006)
ISBN : 2-7011-4386-1

L. Aigouy, Y. De Wilde et C. Frétigny
Les nouvelles microscopies - A la découverte du nanomonde
Editions Belin (2006)
ISBN : 2-7011-3648-2

S. Kalinin et A. Gruverman
Scanning probe microscopy - Electrical & electrochemical phenomena at the nanoscale (vol.1 et 2)
Springer (2007)
ISBN-10 : 0-387-28667-5

R. Wiesendanger
Scanning probe microscopy and spectroscopy - Methods and applications
Cambridge University Press (1998)
ISBN : 0-521-42847-5

E. Meyer, H. J. Hug et R. Bennewitz
Scanning probe microscopy and spectroscopy - The lab on a tip
Springer (2004)
ISBN : 3-540-43180-2